| 专利名称 | 检测编程操作对临近存储单元干扰的方法 | 申请号 | CN201110391567.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102426860A | 公开（授权）日 | 2012.04.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 龙爽;陈岚;陈巍巍;杨诗洋 | 主分类号 | G11C29/50(2006.01)I | IPC主分类号 | G11C29/50(2006.01)I | 专利有效期 | 检测编程操作对临近存储单元干扰的方法 至检测编程操作对临近存储单元干扰的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种检测编程操作对临近存储单元干扰的方法，在对存储阵列的单元进行编程操作的同时，同时选通多根连续位线，测量与被编程存储单元的位线相邻的连续两根位线的电压，计算流过所述两根连续位线连接的存储单元的泄露电流，通过判断所述泄露电流是否大于预设电流值，可以检测与被编程存储单元临近的存储单元中原有的信息是否受到泄露电流的干扰。另外，如果测量与被编程存储单元的施加低电压的位线相邻的连续两根位线的电压，还可以检测被编程存储单元的编程速度是否受到泄露电流的干扰。 |
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