| 专利名称 | 一种基于蒙特卡罗方法与特征线方法耦合的计算辐射屏蔽的方法 | 申请号 | CN201310023571.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103106301A | 公开（授权）日 | 2013.05.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 陈珍平;郑华庆;孙光耀;宋婧;吴宜灿 | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | IPC主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于蒙特卡罗方法与特征线方法耦合的计算辐射屏蔽的方法 至一种基于蒙特卡罗方法与特征线方法耦合的计算辐射屏蔽的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于蒙特卡罗方法与特征线方法耦合的计算辐射屏蔽的方法，该方法通过耦合这两种方法，在几何复杂的辐射源区域采用蒙特卡罗方法模拟，而针对几何简单的屏蔽层区域则采用非均匀修正的特征线方法模拟来获取屏蔽层中的辐射粒子通量分布结果，其中，蒙特卡罗方法优点在于能够精确地模拟多维复杂几何下的粒子输运过程，而特征线方法优点在于其对计算模型几何限制小，计算速度快且不存在射线效应，可以获得高精度的计算结果。相对传统的屏蔽计算方法而言，本发明可以对深穿透屏蔽区域获得更好的几何适应性、更高的计算效率和更精确的计算精度。 |
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