| 专利名称 | 一种用于62mm功率器件的结电容测试电路及装置 | 申请号 | CN201220496677.5 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN202903894U | 公开（授权）日 | 2013.04.24 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 成星;朱阳军;陆江;卢烁今;佘超群;高振鹏 | 主分类号 | G01R27/26(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R27/26(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于62mm功率器件的结电容测试电路及装置 至一种用于62mm功率器件的结电容测试电路及装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种用于62mm功率器件的结电容测试电路，属于功率半导体器件结电容测试装置技术领域。该电路包括两个晶体管单元、电源连接点、低电压电流连接点、地电压连接点、电阻、短路电容、电感、第Ⅰ输入电容、第Ⅰ输出电容、第Ⅰ反馈电容、第Ⅱ输入电容、第Ⅱ输出电容、第Ⅱ反馈电容，该两个晶体管单元具有源极测试点、漏极测试点和栅极测试点。本实用新型还公开了基于该用于62mm功率器件的结电容测试电路的装置。该测试电路及装置能够适用于包括两个晶体管单元的62mm功率器件。 |
1、源头对接，价格透明
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