| 专利名称 | 集成电路的测试装置 | 申请号 | CN201210576911.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103064006A | 公开（授权）日 | 2013.04.24 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 谢朝辉;赵明琦;王德坤;刘海南;黑勇;周玉梅 | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 专利有效期 | 集成电路的测试装置 至集成电路的测试装置 | 法律状态 | 公开 | 说明书摘要 | 本发明提供一种集成电路的测试装置，包括：主控模块，用于运行嵌入式操作系统与测试程序，并发送控制命令；至少一个，与所述主控模块及待测集成电路子板相连的，用于依据所述控制命令获取所述待测集成电路子板的测试数据，并将所述测试数据回传至和所述主控模块的从属FPGA。本装置将待测集成电路子板与从属FPGA相连，从属FPGA与主控模块通过高速接口相连，从属FPGA的引脚除去时钟引脚与电源引脚外，有大量可配置用户引脚，用于与待测集成电路子板相连，避免了主控FPGA直接连接集成电路子板方式，导致提供至用户的接口数量有限，而无法对引脚数量较多的集成电路子板进行测试的问题。 |
1、源头对接，价格透明
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