| 专利名称 | 地表粗糙度参数测量装置及方法 | 申请号 | CN201110383770.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103063168A | 公开（授权）日 | 2013.04.24 | 申请（专利权）人 | 中国科学院对地观测与数字地球科学中心 | 发明（设计）人 | 陈权;李震;曾江源 | 主分类号 | G01B11/30(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/30(2006.01)I | 专利有效期 | 地表粗糙度参数测量装置及方法 至地表粗糙度参数测量装置及方法 | 法律状态 | 公开 | 说明书摘要 | 本发明提供一种地表粗糙度参数测量装置及方法。地表粗糙度参数测量装置包括：两垂直设置的柱状的支架；在两个支架之间分别固定连接有水平的上横杆和下横杆，上横杆和下横杆上分别对应开设有上通孔和下通孔，探针分别垂直穿设于上通孔和对应的下通孔中；探针与上通孔及探针与下通孔之间为间隙配合；探针的顶端设置有用于防止探针由上通孔中滑脱的止挡头，探针的底端设置有用于与地表相接触的抵顶部。本发明提供的地表粗糙度参数测量装置，提高了测量效率，且结构简单、成本低廉；还能够适应地表覆盖植被的地点或与支架接触的地面不够水平的地点的测量，且能保证良好的测量精度。 |
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