| 专利名称 | 红外探测器的测量装置和测量方法 | 申请号 | CN201210525867.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103017912A | 公开（授权）日 | 2013.04.03 | 申请（专利权）人 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 发明（设计）人 | 熊敏;周桃飞;邢利敏;董旭;张志强;张宝顺 | 主分类号 | G01J5/10(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J5/10(2006.01)I | 专利有效期 | 红外探测器的测量装置和测量方法 至红外探测器的测量装置和测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开一种红外探测器的测量装置和测量方法，该装置包括红外光谱仪，提供单色的红外光；低温装置，具有红外窗口，该红外窗口接收所述红外光；设于所述低温装置内的待测探测器和参考探测器；移动平台，带动所述红外光谱仪或待测探测器和参考探测器移动；前置放大器，分别连接于所述待测探测器和参考探测器，所述前置放大器将探测信号放大后输出至所述红外光谱仪。本发明首先完成低温装置内高响应度的参考探测器对准，移动平台移动相应偏移量后实现待测探测器的自动对准。可提高小尺寸、低响应度红外探测器低温测量的对准效率与测量精度，方便多个样品多次、重复测量。 |
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