| 专利名称 | 高分辨率共聚焦显微镜 | 申请号 | CN200810117071.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101634747 | 公开（授权）日 | 2010.01.27 | 申请（专利权）人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明（设计）人 | 俞育德;李运涛;余金中 | 主分类号 | G02B21/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B21/00(2006.01)I;G02F1/01(2006.01)I | 专利有效期 | 高分辨率共聚焦显微镜 至高分辨率共聚焦显微镜 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明是一种高分辨率共聚焦显微镜，包括激发光部分，由光源、 调制器阵列、扩束透镜组成；样品台部分，由样品台、光学调制器阵 列、物镜构成；收集光部分，由聚焦透镜、光学调制器阵列、光电倍 增管构成；图像处理部分，由信号放大电路、计算机组成。本发明提 出的高分辨率共聚焦显微镜具有光学调制器阵列，通过电学控制方法 实现光学调制器阵列的开光控制，取代传统共聚焦显微镜的机械旋转 部件和电动快门；并能够实现对扫描区域组合和孔径的自由控制。控 制光学调制器阵列全部打开，则显微镜为大视场显微镜；控制调制器 阵列局部打开，则为共焦扫描显微镜。可以实现样品的选区共焦成像。 |
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