| 专利名称 | 一种测量InGaAs探测器偏振敏感响应的装置 | 申请号 | CN200910055333.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101614610 | 公开（授权）日 | 2009.12.30 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 唐恒敬;李永富;朱耀明;李淘;李雪;龚海梅 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测量InGaAs探测器偏振敏感响应的装置 至一种测量InGaAs探测器偏振敏感响应的装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种测量InGaAs探测器偏振敏感响应的装置，它由光源系 统、偏振态控制系统、光阑、待测InGaAs探测器、电流放大器和示波器组成， 其中偏振态控制系统由两个格兰-汤普森棱镜组成，用于产生纯净的线偏振光； 待测InGaAs探测器置于一侧开孔的圆形柯伐管壳中，并且将光源系统、偏振 态控制系统、光阑和待测InGaAs探测器置于光、热屏蔽罩中，通过旋转探测 器的方式，使不同振动方向的线偏振光入射到探测器的光敏面上，可得到正入 射和斜入射情况下InGaAs探测器的偏振敏感响应。本发明的装置和方法简捷 实用、测试精度高，并可推广应用到可见光探测器的偏振敏感响应测试中。 |
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