| 专利名称 | 一种能精确测量超薄工件厚度方法及仪器 | 申请号 | CN200810012029.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101614533 | 公开（授权）日 | 2009.12.30 | 申请（专利权）人 | 中国科学院金属研究所 | 发明（设计）人 | 蔡桂喜;韩晓华;刘畅;徐华;董瑞琪;贾中青 | 主分类号 | G01B17/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B17/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种能精确测量超薄工件厚度方法及仪器 至一种能精确测量超薄工件厚度方法及仪器 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种能精确测量超薄工件厚度方法，采用信号处理的方法来提取表征工 件厚度的超声波信息，既适合于测量超薄大曲率工件厚度也适合于测量普 通工件厚度的超声测厚技术，它的核心是对接收到的回波信号进行快速傅 里叶变换从而获得测量结果；一种能精确测量超薄工件厚度方法的仪器， 由探头和主机两部分组成，主机部分包括DSP控制模块、超声波发射电路、 超声波信号接收电路，信号放大电路、闸门电路、通讯接口，液晶显示器 和键盘。本发明的优点：既适合于测量超薄大曲率工件厚度也适合于测量 普通工件厚度，可实时采集超声回波信号，实时的进行快速傅里叶变换， 实时计算和存储管壁厚度，可以实现机械化自动测量。 |
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