| 专利名称 | 现场电化学显微光谱成像分析方法及系统 | 申请号 | CN201210103286.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102621080A | 公开（授权）日 | 2012.08.01 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 吴守国;王秋平;刘刚 | 主分类号 | G01N21/27(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/27(2006.01)I | 专利有效期 | 现场电化学显微光谱成像分析方法及系统 至现场电化学显微光谱成像分析方法及系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明实施例提供了现场电化学显微光谱成像方法以及系统，以解决市售普通工作电极无法应用于在光谱电化学技术中，并且，很难采集到工作电极表面的信息的问题。上述系统包括光源设备、电化学信号设备、电化学接口设备以及显微光谱成像设备。上述电化学接口设备可竖直安放市售普通的工作电极，光源设备提供的入射光斜照在工作电极的表面上，经反射后被显微光谱成像设备采集到。上述反射光包含了工作电极表面的信息，显微光谱成像设备从而可根据反射光生成光谱和对工作电极表面显微成像，因此解决了依靠现有的设备很难采集到工作电极表面的信息的问题。同时实现了将市售的普通工作电极应用于在光谱电化学技术中的目的。 |
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