| 专利名称 | 电光系数测量装置 | 申请号 | CN201210064304.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102621110A | 公开（授权）日 | 2012.08.01 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 张学娇;叶青;蔡海文;瞿荣辉 | 主分类号 | G01N21/63(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/63(2006.01)I;G01J1/42(2006.01)I | 专利有效期 | 电光系数测量装置 至电光系数测量装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种电光系数测量装置由宽带光源、第一光纤、第一准直器、待测电光材料样品、第二准直器、第二光纤和光谱仪构成，待测样品的上下表面的镀金电极分别与电源的正负极相连，两端面构成F-P腔。本测量装置可以测量出立方晶体结构材料的全部电光系数张量元。本发明具有结构简单和测量精度高的特点。 |
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