| 专利名称 | 一种测深声纳系统偏差校正方法 | 申请号 | CN200810112482.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101587187 | 公开（授权）日 | 2009.11.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院声学研究所 | 发明（设计）人 | 刘晓东;朱维庆;高俊涛;张方生;孙宇佳 | 主分类号 | G01S7/52(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S7/52(2006.01)I;G01S15/08(2006.01)I;G01S15/89(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测深声纳系统偏差校正方法 至一种测深声纳系统偏差校正方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种测深声纳系统偏差校正方法，包括如下步骤：1)通过 海上校准试验采集数据，得出各个待校准参量的初始值；2)选取一个待校 准参量，根据各个待校准参量的当前值，计算出所选取的待校准参量的修正 量；3)判断所选取的待校准参量的当前修正量是否小于预设的门限值或收 敛于某一数值；如判断为否，则待校准参量的值用该待校准参量当前值与当 前修正量之和替换，返回步骤2)，直至所有待校准参量的修正量均符合上述 判定条件。本发明综合考虑系统中的各校准参量，利用反馈机制，降低了各 系统偏差之间的影响，增加了各系统偏差修正量的准确性。同时本发明考虑 了高分辨率测深侧扫声纳的各项特点，因此特别适合应用于高分辨率测深侧 扫声纳。 |
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