| 专利名称 | 一种CT投影中心的自动校正方法 | 申请号 | CN200810112193.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101584587 | 公开（授权）日 | 2009.11.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院过程工程研究所 | 发明（设计）人 | 孟凡勇;王维;李静海 | 主分类号 | A61B6/03(2006.01)I | IPC主分类号 | A61B6/03(2006.01)I;G01N23/04(2006.01)I;G03B42/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种CT投影中心的自动校正方法 至一种CT投影中心的自动校正方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种CT投影中心的自动校正方法，包括如下步骤：1)使 用CT对被测物进行全周扫描，得到在不同角度下被测物在探测器阵列的 各探测器单元的投影原始数据；2)对所述投影原始数据进行数据处理， 找出在所述被测物边缘的投影点在所述探测器阵列中的位置；3)根据所述 被测物边缘的投影点在所述探测器阵列中的位置计算出CT投影中心并对 所述投影原始数据进行校正，得到最终的二维断层数据。本发明无需采用 专用模体，无需移动被测物，即可对CT的中心投影位置进行校正，而且 本发明的各校正步骤可以编入重建前处理程序自动运行，节约了测量时 间，延长了射线源及探测器的有效工作寿命。 |
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