| 专利名称 | 基于双自举和电压补偿技术的A/D转换器采样开关 | 申请号 | CN200810106010.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101577545 | 公开（授权）日 | 2009.11.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 杨海钢;刘珂;尹韬 | 主分类号 | H03M1/06(2006.01)I | IPC主分类号 | H03M1/06(2006.01)I;H03M1/12(2006.01)I;H03K17/14(2006.01)I;H03K17/687(2006.01)I;G11C27/02(2006.01)I | 专利有效期 | 基于双自举和电压补偿技术的A/D转换器采样开关 至基于双自举和电压补偿技术的A/D转换器采样开关 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于双自举和电压补偿技术的A/D转换器采样 开关，包括：主开关单元，用于待采样信号通路，实现对待采样信号 的采样功能；衬底电压自举单元，用于实现主开关单元中开关管PMOS Switch 的衬底电压自举功能；栅极电压自举单元，用于实现主开关单 元中开关管PMOS Switch的栅极电压自举功能；储压单元，用于对输 入信号VIN进行并行采样，实现VIN电压的暂时存储功能；电压补偿单 元，用于实现输出端VOUT采样输出电压的补偿功能。本发明设计出可 以工作在低电压下，低功耗、对工艺误差不敏感的采样开关；同时， 采取电压自补偿的办法进行消除，有效解决了开关管栅电压自举后出 现时钟溃通带来的非线性问题。 |
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