| 专利名称 | 用于测量红光超短脉冲半极大全宽度的自相关测量仪 | 申请号 | CN200810106277.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101576414 | 公开（授权）日 | 2009.11.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明（设计）人 | 刘运涛 | 主分类号 | G01J11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 用于测量红光超短脉冲半极大全宽度的自相关测量仪 至用于测量红光超短脉冲半极大全宽度的自相关测量仪 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种用于测量红光超短脉冲半极大全宽度的自相关 测量仪，包括温度控制器、光源、准直与会聚单元、分光与延迟单元、 非线性效应单元和信号探测单元；其中，温度控制器用于控制作为光 源的激光器的温度，解决激光器激射波长易漂移的问题，并可整体调 整，实现光路调节；激光器作为光源，其出射光依次经过准直与会聚 单元中的自聚焦透镜、分光与延迟单元、准直与会聚单元中的平凸透 镜，以及非线性效应单元，进入信号探测单元，实现对激光器出射光 的测量。本发明将激光器温度稳定在0.2°以内，并通过改变温度调节 半导体激光器的输出波长，扩大可测试的波长范围，提高测试灵敏度， 从而满足对红光半导体激光器产生超短脉冲进行测试的需要。 |
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