| 专利名称 | 一种半导体集成电路装置及其可靠性测试装置和测试方法 | 申请号 | CN200810104816.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101566669 | 公开（授权）日 | 2009.10.28 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 杨旭;张戈;胡伟武 | 主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I | 专利有效期 | 一种半导体集成电路装置及其可靠性测试装置和测试方法 至一种半导体集成电路装置及其可靠性测试装置和测试方法 | 法律状态 | 专利实施许可合同备案的生效、变更及注销 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种半导体集成电路装置及其可靠性测试装 置和测试方法。该电路装置包括一个二选一电路模块，三个触发器以及一个表 决器。其在实现存储节点三模冗余的同时实现了扫描触发器的功能，以简单的 数字逻辑电路和较小的代价，提高半导体集成电路芯片的可靠性和可测性。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障