| 专利名称 | 一种石英晶体微天平痕量氨气检测装置 | 申请号 | CN201220085010.6 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN202631382U | 公开（授权）日 | 2012.12.26 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 郑守国;李淼;张浩东;胡泽林;曾新华;朱泽德;翁士状;尤聚军;高会议;何绵涛 | 主分类号 | G01N5/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N5/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种石英晶体微天平痕量氨气检测装置 至一种石英晶体微天平痕量氨气检测装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种石英晶体微天平痕量氨气检测装置，该装置包括敏感QCM传感器和参比QCM传感器，两者分别连接在晶体振荡电路A和晶体振荡电路B中，所述晶体振荡电路A和晶体振荡电路B的信号输出端分别连接测频电路A和测频电路B；并经差频电路和数据采集卡与内置Labview数据采集处理程序的PC机连接；所述敏感QCM传感器为表面涂覆有敏感涂层的石英晶振。本实用新型的石英晶体微天平痕量氨气检测装置灵敏度高，采用单片机与CPLD相结合的测频电路方式，提高了频率测量的精度与范围；受环境因素影响小；选择性好，制作聚苯胺薄膜对氨气具有单一的吸收性，不易受其它气体干扰。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障