| 专利名称 | 一种利用荧光蛋白作为荧光探针测量电离辐射下细胞氧化胁迫损伤的方法 | 申请号 | CN201110079510.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102230895A | 公开（授权）日 | 2011.11.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 黄青;柯志刚;余增亮 | 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/64(2006.01)I | 专利有效期 | 一种利用荧光蛋白作为荧光探针测量电离辐射下细胞氧化胁迫损伤的方法 至一种利用荧光蛋白作为荧光探针测量电离辐射下细胞氧化胁迫损伤的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种利用荧光蛋白作为荧光探针测量电离辐射下细胞氧化胁迫损伤的方法，利用荧光蛋白选择定位表达在对电离辐射敏感的亚细胞结构上，对电离辐射产生自由基含量进行定量化的测量，从而通过直接观测蛋白荧光强度变化推测电离辐射对细胞具体部位的损伤，本发明发射的荧光易于检测，灵敏度高，荧光性质稳定，在较大的pH范围内也能正常发光，对高温、去垢剂、盐、有机溶剂和大多数普通酶具有较强抗性，对细胞无毒害，不受假阳性干扰，构建载体方便，表达没有种属、组织和位置特异性。 |
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