专利名称 | 一种基于贪心策略的FPGA局部互联测试方法 | 申请号 | CN200910248934.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开(公告)号 | CN102116840A | 公开(授权)日 | 2011.07.06 | 申请(专利权)人 | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 发明(设计)人 | 杨志家;吕岩;马继开;谢闯;刘志峰;段茂强 | 主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I;G06F17/50(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于贪心策略的FPGA局部互联测试方法 至一种基于贪心策略的FPGA局部互联测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开一种基于贪心策略的FPGA局部互联测试方法,基于FPGA实际结构模型化,采用基于“影响因数”的贪心策略算法对这些连接关系进行分组,最终的分组结果反映到目标FPGA上即是一个完备的局部互联测试配置集。在进行分组的过程中,为了更加体现实用性,本发明还提供了可以根据目标器件的局部互联本身,或全局互联的结构特点进行分组条件约束的机制。本发明方法能够自动生成FPGA局部测试配置,且不依赖具体某一FPGA的结构,具有普适性,能够被广泛的推广;本发明采取了基于“影响因数”的贪心策略,实现了测试配置集的最小化和对局部互联资源的全覆盖;本发明充分考虑了FPGA器件本身的结构约束,确保生成的配置能够在实际器件中实现。 |
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