一种基于贪心策略的FPGA局部互联测试方法

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专利名称 一种基于贪心策略的FPGA局部互联测试方法 申请号 CN200910248934.6 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN102116840A 公开(授权)日 2011.07.06 申请(专利权)人 中国科学院沈阳自动化研究所 发明(设计)人 杨志家;吕岩;马继开;谢闯;刘志峰;段茂强 主分类号 G01R31/3185(2006.01)I IPC主分类号 G01R31/3185(2006.01)I;G06F17/50(2006.01)I 专利有效期 一种基于贪心策略的FPGA局部互联测试方法 至一种基于贪心策略的FPGA局部互联测试方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明公开一种基于贪心策略的FPGA局部互联测试方法,基于FPGA实际结构模型化,采用基于“影响因数”的贪心策略算法对这些连接关系进行分组,最终的分组结果反映到目标FPGA上即是一个完备的局部互联测试配置集。在进行分组的过程中,为了更加体现实用性,本发明还提供了可以根据目标器件的局部互联本身,或全局互联的结构特点进行分组条件约束的机制。本发明方法能够自动生成FPGA局部测试配置,且不依赖具体某一FPGA的结构,具有普适性,能够被广泛的推广;本发明采取了基于“影响因数”的贪心策略,实现了测试配置集的最小化和对局部互联资源的全覆盖;本发明充分考虑了FPGA器件本身的结构约束,确保生成的配置能够在实际器件中实现。

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