| 专利名称 | 用于验证电路的模型检测中的模型抽象方法及其系统 | 申请号 | CN200910083790.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101556627 | 公开（授权）日 | 2009.10.14 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 陈博文;沈海华 | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | IPC主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 专利有效期 | 用于验证电路的模型检测中的模型抽象方法及其系统 至用于验证电路的模型检测中的模型抽象方法及其系统 | 法律状态 | 专利实施许可合同备案的生效、变更及注销 | 说明书摘要 | 本发明涉及用于验证电路的模型检测中的模型抽象方法和系统，所述电 路由Verilog设计，所述方法包括：步骤1，读入所述电路的Verilog代码， 依据检测需求处理所述Verilog代码中的变量，以规范并简化所述代码；步 骤2，根据规范后的所述变量和该变量的赋值，提取所述电路的数据路径； 步骤3，提取数据路径的数据运算，根据该数据运算抽象所述数据路径；步 骤4，对抽象后的所述变量和该变量的赋值进行操作，生成状态机的状态集 和边集。本发明能够在用户提供必要的信息后，自动对Verilog代码进行分 析，从中提取数据路径。 |
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