| 专利名称 | 一种采用交流电法测定离子交换膜面电阻的装置 | 申请号 | CN201010514548.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102455310A | 公开（授权）日 | 2012.05.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院过程工程研究所 | 发明（设计）人 | 石绍渊;赵西云;丛威;吴霞;温树梅;王倩 | 主分类号 | G01N27/04(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N27/04(2006.01)I;G01R27/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种采用交流电法测定离子交换膜面电阻的装置 至一种采用交流电法测定离子交换膜面电阻的装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种采用交流电法测定离子交换膜面电阻的装置。该装置包括：测试电导池(I)、控温水浴槽(II)、LCR测试仪(III)；所述的测试电导池(I)置于控温水浴槽(II)中，包括：固定的主臂(8)和可转动设置在主臂(8)上的副臂(3)，该两臂下端相向设置有通过转动副臂(3)可扣合的两个半室(5)，该两个半室(5)扣合夹紧离子交换膜(10)；所述的两个半室(5)的底面设有铂片电极(6)，并分别通过两臂上的导线密封槽(4)引出2根电极导线，并经开尔文夹引线与LCR测试仪连接。本发明的优点在于可以简便快速测试离子交换膜的面电阻，并且对膜面电阻的测量是非损伤性的，也有助于提高测试精度和减小膜不均匀性所引起的误差。 |
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