| 专利名称 | 一种自动测量样品太赫兹波段光谱特性的系统 | 申请号 | CN200910051791.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101551273 | 公开（授权）日 | 2009.10.07 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 陆金星;黄志明;沈学民;侯云;舒嵘;王彪;戴宁;储君浩 | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I;G01N21/00(2006.01)I;G02F1/35(2006.01)I | 专利有效期 | 一种自动测量样品太赫兹波段光谱特性的系统 至一种自动测量样品太赫兹波段光谱特性的系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开一种自动测量样品太赫兹波段光谱特性的系统，具有频谱分辨 率高，测量速度快，测量结果信噪比高的优点，同时可以对样品进行太赫兹波 段的扫描成像。该发明基于非线性光学差频原理生成高功率且稳定的太赫兹 源，设计合理可行的光学与机械结构，利用计算机进行精准控制，使用高莱探 测器对太赫兹波进行双光路测量，最终实现高精度快速自动化测量样品太赫兹 波段透射谱和反射谱特性的目的。 |
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