| 专利名称 | 基于纹理基元统计特性分析的虹膜分类方法 | 申请号 | CN200810102312.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101540000 | 公开（授权）日 | 2009.09.23 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 谭铁牛;孙哲南;邱显超;何召锋 | 主分类号 | G06K9/62(2006.01)I | IPC主分类号 | G06K9/62(2006.01)I;G06K9/00(2006.01)I | 专利有效期 | 基于纹理基元统计特性分析的虹膜分类方法 至基于纹理基元统计特性分析的虹膜分类方法 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于纹理基元统计特性分析的虹膜分类方法， 包括：S1.对训练集中清晰的虹膜图像进行预处理，得到感兴趣区域 ROI，对ROI区域进行特征提取，对提取的纹理特征进行训练并建模， 获得虹膜粗分类模型；S2.对任意输入的清晰虹膜图像进行预处理， 得到ROI区域，然后进行特征提取，将提取得到的虹膜纹理特征输入 到步骤S1训练得到的模型中，获得输入虹膜图像的类别信息。利用本 发明，使得完成一次虹膜比对的平均时间缩短，达到实时的效果，有 效地加快了虹膜识别技术在大规模数据库中进行特征模板比对的速 度。 |
1、源头对接，价格透明
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