| 专利名称 | 单粒子脉冲宽度测量电路 | 申请号 | CN201110319780.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103063933A | 公开（授权）日 | 2013.04.24 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 宿晓慧;毕津顺 | 主分类号 | G01R29/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R29/02(2006.01)I | 专利有效期 | 单粒子脉冲宽度测量电路 至单粒子脉冲宽度测量电路 | 法律状态 | 公开 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种单粒子脉冲宽度测量电路。该电路包括单粒子脉冲信号产生电路及至少一级测量电路；单粒子脉冲信号产生电路产生待测单粒子脉冲信号；由待测单粒子脉冲信号直接驱动的双稳态电路构成测量电路的第一级；从测量电路的第二级开始，每一级电路分别由脉冲衰减电路和双稳态电路构成；其中脉冲衰减电路的输入端与上一级电路中双稳态电路的信号输入端相连，脉冲衰减电路的输出端与本级电路中的双稳态电路的信号输入端相连；预设的一级或多级双稳态电路的输出端共同构成了测量电路的输出结果，该输出结果对应单粒子脉冲宽度。本发明的单粒子脉冲宽度测量电路，可以提高单粒子脉冲宽度的测量精度，降低设备成本。 |
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