| 专利名称 | 衰减全反射光学测量平台 | 申请号 | CN201110276756.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102998097A | 公开（授权）日 | 2013.03.27 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 祁志美;张喆 | 主分类号 | G01M11/04(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/04(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G01N21/25(2006.01)I | 专利有效期 | 衰减全反射光学测量平台 至衰减全反射光学测量平台 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种衰减全反射光学测量平台，涉及光学测量技术，包括底座、转动臂、固定臂、测试部件等；测试部件为光波导测试装置或光波导生化传感器测试装置或棱镜全反射测试装置。固定臂与固定圆盘成一整体，转动臂与固定圆盘同轴转动连接，转动臂通过紧固螺钉锁定；固定臂与固定圆盘置于底座上方，与底座固定连接，转动臂位于底座与固定圆盘之间；测角转盘置于固定圆盘上方，与固定圆盘同轴固定连接；测试部件通过自身支杆固定在测角转盘上，光源和探测器分别固定到各自支架上，光源支架和探测器支架再通过支杆分别固定到固定臂和转动臂上，光源光穿过测试部件后被探测器接收。本发明装置入射角准确可调，可灵活接收出射光，重复性和通用性好。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障