| 专利名称 | 极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统 | 申请号 | CN201220511774.7 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN202885836U | 公开（授权）日 | 2013.04.17 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 潘亮;赵建科;张周锋;田留德;高博;段炯 | 主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | 专利有效期 | 极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统 至极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统，该测试系统包括数据采集控制计算机、自准直仪、恒温试验箱、多齿分度台以及与待测经纬仪固定连接的平面反射镜；多齿分度台设置在恒温试验箱内部并与数据采集控制计算机通过线缆电性连接；恒温试验箱的侧壁上设置有光学窗口；待测经纬仪设置在多齿分度台上；自准直仪通过光学窗口与平面反射镜相对并处于等高位置；数据采集控制计算机分别与多齿分度台以及自准直仪相连。本实用新型提供了一种自动化程度高、测量精度高以及稳定性高的极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统。 |
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