| 专利名称 | 一种粒子滤波跟踪方法和跟踪装置 | 申请号 | CN200810056904.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101493943 | 公开（授权）日 | 2009.07.29 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 梁大为;黄庆明;蒋树强;高文 | 主分类号 | G06T7/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G06T7/20(2006.01)I | 专利有效期 | 一种粒子滤波跟踪方法和跟踪装置 至一种粒子滤波跟踪方法和跟踪装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种粒子滤波跟踪方法和跟踪装置，该方法包括：步骤S1： 在原始图像帧上采样获得初始粒子集；步骤S2：对原始图像帧的像素经过前 景背景分类得到概率图；步骤S3：按照系统动态模型传播粒子并采样，得到 第二粒子集；步骤S4：按照在概率图上构建的系统观察模型得到所述第二粒 子的权重，并归一化粒子的权重得到第三粒子集；步骤S5：对所述第三粒子 集进行重要性重采样，得到重采样粒子集；步骤S6：通过重采样粒子集计算 系统状态并输出。本发明提高了粒子滤波的计算效率，并提高了鲁棒性，不容 易丢失目标。 |
1、源头对接，价格透明
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