专利名称 | 时间分辨的双光栅干涉仪 | 申请号 | CN200810055784.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开(公告)号 | CN101482432 | 公开(授权)日 | 2009.07.15 | 申请(专利权)人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明(设计)人 | 祁志美;邓琳;逯丹凤;夏善红 | 主分类号 | G01J9/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J9/02(2006.01)I;G01K11/00(2006.01)I;G01B9/02(2006.01)I;G01N21/45(2006.01)I | 专利有效期 | 时间分辨的双光栅干涉仪 至时间分辨的双光栅干涉仪 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明一种时间分辨的双光栅干涉仪,是利用两平行光栅将一束平行 光经两次衍射产生多束时间分辨的干涉光。由光源发出的平行光束透过第 一个光栅后得到多束衍射光,其中两束对称衍射光A和A′经反射镜反射 到第二个光栅的同一位置,使得两光束透过第二个光栅后只产生一套衍射 光斑。每一束衍射光都含有来自光束A和A′的成分,是时间分辨的干涉 光束。如果在两平行光栅之间放置一个透明样品池,并使光束A或A′透 过样品池,那么通过使用光强探测器监测任一束干涉光相位差随时间的变 化,就能探测到样品池内物质的物理或化学变化。本发明的双光栅干涉仪 能够被用来制备化学和生物传感器,也可用来测定温度、液体的折射率和 薄膜的光学厚度。 |
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