| 专利名称 | 量子级联激光器脊形腐蚀辅助检测装置及方法 | 申请号 | CN201210211816.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102735157A | 公开（授权）日 | 2012.10.17 | 申请（专利权）人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明（设计）人 | 梁平;胡颖;刘俊岐;刘峰奇;王利军;张锦川 | 主分类号 | G01B7/26(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B7/26(2006.01)I | 专利有效期 | 量子级联激光器脊形腐蚀辅助检测装置及方法 至量子级联激光器脊形腐蚀辅助检测装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种量子级联激光器脊形腐蚀辅助检测装置及方法，该装置包括：一支撑板(1)；一欧姆表(2)；两条连接导线(3)，该两条连接导线(3)分别连接在欧姆表(2)的两个接口；四个固定孔(4)，该四个固定孔(4)开在在支撑板(1)上，并排成一行；两个固定支架(5)，该两个固定支架通过四个固定孔(4)固定在支撑板(1)上；两个探针(6)，该两个探针(6)通过尾部的螺旋孔分别固定在两个固定铜支架(5)上。本发明提供的这种量子级联激光器脊形腐蚀辅助检测装置及其方法，具有制作简单，成本低，灵敏度高的优点，能够有效保证具有不同掺杂平面的半导体多层结构腐蚀程度。 |
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