| 专利名称 | 具有孔径对准功能的哈特曼波前探测器 | 申请号 | CN201210264084.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102778299A | 公开（授权）日 | 2012.11.14 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 宣丽;穆全全;曹召良;胡立发;彭增辉;刘永刚;姚丽双;李大禹;杨程亮;夏明亮;鲁兴海 | 主分类号 | G01J9/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J9/00(2006.01)I;G02B7/02(2006.01)I | 专利有效期 | 具有孔径对准功能的哈特曼波前探测器 至具有孔径对准功能的哈特曼波前探测器 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提出具有孔径对准功能的哈特曼波前探测器。其特征是由传统的哈特曼波前探测器、切换凹透镜和一个微位移台组成。其中整体器件固定于微位移台上，微位移台能够在光轴截面上做二维平移、俯仰、扭摆转动，以调整哈特曼探测器的光轴；切换凹透镜固定在插板上，进行孔径对准时，将插板插入转接镜筒的插槽，使切换凹透镜切入转接镜头光路中，如图所示，从而使光电探测器上的光点阵列像切换为微透镜阵列的实物像；一边监测光电探测器中的微透镜阵列的形貌一边调整微位移台，直到视场上下和左右两个直径端点都出现完整的微透镜时即完成孔径对准。孔径对准完成后将插板向上拔，使切换凹透镜移出转接镜头光路，恢复为传统的哈特曼波前探测器。 |
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