半导体器件

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专利名称 半导体器件 申请号 CN201110031550.6 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN102623431A 公开(授权)日 2012.08.01 申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 闫江 主分类号 H01L23/525(2006.01)I IPC主分类号 H01L23/525(2006.01)I 专利有效期 半导体器件 至半导体器件 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 一种半导体器件,电可编程熔丝的阳极接触位于绝缘层正上方,阴极接触并不位于绝缘层正上方,因此熔丝线路与硅衬底之间并无绝缘层的阻挡,熔丝线路更容易产生电迁移,这使电可编程熔丝具有更好的可编程能力,同时,绝缘层可以阻挡扩散至硅衬底的热量;另外,仅通过调整电可编程熔丝在版图中位置,即可获得本发明的结构,并未增加工艺步骤和掩模板数目,节省了生产成本。

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