| 专利名称 | 一种测量光学器件相位延迟角度的方法 | 申请号 | CN201210073614.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102620907A | 公开（授权）日 | 2012.08.01 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 王建宇;吴金才;何志平;贾建军;舒嵘;杨海马;袁立银 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测量光学器件相位延迟角度的方法 至一种测量光学器件相位延迟角度的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种测量光学器件相位延迟角度的方法，该检测装置由检测光源、起偏偏振片、1/4波片、待检光学器件、偏振光方位角探测组件组成，通过测量检测光源通过待测相位延迟器件前后的状态变化，从而获知待测器件的相位延迟角度。它适用于偏振光学系统、椭圆偏振测量领域、激光技术等与偏振相关的测量与检测领域。该方法的原理描述如下：长轴处于水平或竖直方向的椭圆偏振光通过不同相位延迟角度的光学器件时，其透射或反射偏振光的长轴方向会有所不同，通过测量透射或反射光的长轴方位角度来反推出待测器件的相位延迟角度，从而实现对待测器件偏振特性的测量。 |
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