单片集成GaAs基PHEMT和PIN二极管材料结构

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专利名称 单片集成GaAs基PHEMT和PIN二极管材料结构 申请号 CN200710178321.0 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN101447485 公开(授权)日 2009.06.03 申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 徐静波;张海英;叶甜春 主分类号 H01L27/06(2006.01)I IPC主分类号 H01L27/06(2006.01)I;H01L29/778(2006.01)I 专利有效期 单片集成GaAs基PHEMT和PIN二极管材料结构 至单片集成GaAs基PHEMT和PIN二极管材料结构 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明公开了一种单片集成GaAs基PHEMT和PIN二极管材料结 构,该结构由GaAs基PHEMT和PIN二极管两部分组成,所述GaAs 基PHEMT和所述PIN二极管被N型高掺杂腐蚀截止层AlAs隔开; 所述GaAs基PHEMT由在GaAs衬底上依次分子束外延生长的缓冲层 GaAs、十个周期的Al0.22Ga0.78As/GaAs超晶格层、沟道下势垒层 Al0.22Ga0.78As、沟道层In0.2Ga0.8As、空间隔离层Al0.22Ga0.78As、平面掺 杂层、势垒层Al0.22Ga0.78As、N型高掺杂盖帽层GaAs构成;所述N型 高掺杂腐蚀截止层AlAs在所述N型高掺杂盖帽层GaAs上分子束外延 生长而成;所述PIN二极管由在N型高掺杂腐蚀截止层AlAs上依次 分子束外延生长的N型高掺杂层GaAs、不掺杂层GaAs、P型掺杂层 GaAs构成。本发明将GaAs基PHEMT和PIN二极管集成在同一块衬 底上,实现单片集成GaAs基PHEMT和PIN二极管。

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