| 专利名称 | 一种宽频阻抗测量系统及宽频阻抗测量方法 | 申请号 | CN201210081375.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102608425A | 公开（授权）日 | 2012.07.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院物理研究所 | 发明（设计）人 | 陆俊;沈保根;邵晓萍 | 主分类号 | G01R27/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R27/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种宽频阻抗测量系统及宽频阻抗测量方法 至一种宽频阻抗测量系统及宽频阻抗测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种宽频阻抗测量系统，包括：待测元件屏蔽盒和阻抗分析仪，所述阻抗分析仪包括：交流信号发生器、参比元件和高速电压测量设备，所述待测元件屏蔽盒的I+、I-接口通过屏蔽线与阻抗分析仪连接，使得交流信号发生器、参比元件和待测元件形成串联回路，高速电压测量设备包括四个高速测量通道，分别连接待测元件屏蔽盒的U+、U-接口以及参比元件的两端，其中U+、U-接口为待测元件屏蔽盒内的元件两端电位的测量接口。本发明还提供了相应的宽频阻抗测量方法。本发明测量误差小；能够在测量频率较大及被测元件与参比元件的阻抗相差较大的情况下保持性能稳定；且本发明测量结果受环境、温度等因素影响小。 |
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