| 专利名称 | 一种高光谱图像中目标地物检测方法及装置 | 申请号 | CN201210056079.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102609703A | 公开（授权）日 | 2012.07.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院对地观测与数字地球科学中心 | 发明（设计）人 | 张兵;高连如;杨威;孙旭;吴远峰;李利伟 | 主分类号 | G06K9/32(2006.01)I | IPC主分类号 | G06K9/32(2006.01)I | 专利有效期 | 一种高光谱图像中目标地物检测方法及装置 至一种高光谱图像中目标地物检测方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种高光谱图像中目标地物检测方法及装置。所述方法包括：分析一待检测目标地物对应的光谱反射率曲线；构造一包含该光谱反射率曲线中特征吸收波段的样本波段集；将该待检测目标地物的高光谱图像中该样本波段集的各波段对应的图像作为空间维图像；确定各空间维图像所对应的像元样本集；计算各像元样本集对应像元的协方差矩阵；将处于光谱维对应位置的各像元样本集中像元的协方差矩阵进行累加并求平均，且将所获得的平均值作为该对应位置像元的有效协方差矩阵；对各有效协方差矩阵进行求逆运算，并将逆运算结果作为该待检测目标地物在该高光谱图像中的分布情况。通过利用本发明所提供方案，可以高效检测高光谱图像中的目标地物。 |
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