| 专利名称 | 一种测量光斑大小的方法 | 申请号 | CN201210109842.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102620655A | 公开（授权）日 | 2012.08.01 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 陈为;廖胜;李华;任栖峰;韩维强;谭述亮;李强;魏红艳;周金梅;时全领 | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测量光斑大小的方法 至一种测量光斑大小的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种测量光斑大小的方法，采用光学系统物方扫描的方法，使得光斑依次通过阵列探测器中相邻两个探测元，获取探测器中相邻两个探测元的响应曲线，根据响应曲线的特征提取光斑大小。利用本发明能够提高大占空比探测器中光斑大小的测量精度，并且简单、可行，对于相关的光学测量具有很好的使用价值。 |
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