| 专利名称 | 一种位线选通装置等效电阻的测试系统及其方法 | 申请号 | CN201110391568.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102508037A | 公开（授权）日 | 2012.06.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 陈巍巍;陈岚;龙爽;杨诗洋 | 主分类号 | G01R27/08(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R27/08(2006.01)I | 专利有效期 | 一种位线选通装置等效电阻的测试系统及其方法 至一种位线选通装置等效电阻的测试系统及其方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种位线选通装置等效电阻的测试系统及其方法，该系统包括四条连续的位线，每条位线连接一个选通装置，四个选通装置相同，所述四个选通装置分别为：第一选通装置、第二选通装置、第三选通装置以及第四选通装置，多个存储单元，每个存储单元与相邻的两条所述位线相邻，还包括：选通控制装置、高电平提供装置、低电平提供装置、第一电压测试装置、第二电压测试装置、第一电流测试装置、电阻测试装置、计算单元。本发明实施例通过选取连续四条位线实现对存储单元的读写操作，并选择其中两端的位线作为选通装置的电压测试端，能够准确获取选通装置的等效电阻，实现对选通装置的性能优劣进行评估，进而提高对存储单元进行读写操作的准确度。 |
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