基于场致电子发射原理的微尖端阵列器件及其制作方法

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专利名称 基于场致电子发射原理的微尖端阵列器件及其制作方法 申请号 CN200710177795.3 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN101441962 公开(授权)日 2009.05.27 申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 傅剑宇;陈大鹏;景玉鹏;欧毅;叶甜春 主分类号 H01J1/304(2006.01)I IPC主分类号 H01J1/304(2006.01)I;H01J9/02(2006.01)I 专利有效期 基于场致电子发射原理的微尖端阵列器件及其制作方法 至基于场致电子发射原理的微尖端阵列器件及其制作方法 法律状态 授权 说明书摘要 本发明公开了一种基于场致电子发射原理的微尖端阵列器件,由氮化 硅薄膜隔离端1、附着有低功函数金属的微尖端2和布有金属导线的布线 凹槽3构成。其中,隔离端1用于在器件工作时避免微尖端与被加工材料 接触,控制微尖端与被加工材料表面的距离;微尖端2用于根据尖端放电 的原理,当在焊盘与所要加工的材料之间加上一微小电压时,尖端处产生 很强的电场,造成大量电子穿透势垒逸出;布线凹槽3用于附着或容纳作 为导线的金属,作为线路通道实现对各个微尖端的控制。本发明同时公开 了基于场致电子发射原理的微尖端阵列器件的制作方法。利用本发明,实 现了高分辨率纳米级图形加工和高密度数据存储,解决了单探针工作效率 低的问题。

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