| 专利名称 | 一种大口径双曲面次镜检测系统 | 申请号 | CN200810239211.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101419062 | 公开（授权）日 | 2009.04.29 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 侯溪;伍凡;范斌;万勇建;陈强;高平起 | 主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | 专利有效期 | 一种大口径双曲面次镜检测系统 至一种大口径双曲面次镜检测系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种大口径双曲面次镜检测系统，包括相移干涉仪、两块对称放置的Hindle球面分块反 射镜、被测大口径双曲面次镜及计算机系统，计算机系统与相移干涉仪连接，两块Hindle球 面分块反射镜用来实现对双曲面次镜中心遮拦外对应区域的子孔径零检测，通过安装在计算 机系统上的相移干涉仪数据处理软件把可分辨干涉条纹对应的两个子孔径相位数据提取出 来，通过调整机构相对旋转被测大口径双曲面次镜和两块Hindle球面分块反射镜的相对位置， 实现对被测大口径双曲面次镜的全孔径范围测试，相邻子孔径间存在足够重叠区以实现高精 度的数据拼接处理，最后由将所得到的子孔径测试数据送入计算机系统进行拼接处理，从而 获得被测大口径双曲面次镜面形信息；本发明为大口径和超大口径双曲面次镜的研制提供了 一种有效的低成本检测手段，具有较大的应用价值。 |
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