| 专利名称 | 一种容错存储器及其纠错容错方法 | 申请号 | CN200710176138.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101414489 | 公开（授权）日 | 2009.04.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 王达;胡瑜;李华伟;李晓维 | 主分类号 | G11C29/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G11C29/24(2006.01)I;G11C29/42(2006.01)I | 专利有效期 | 一种容错存储器及其纠错容错方法 至一种容错存储器及其纠错容错方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种容错存储器及其纠错容错方法，其中的容错存储器包 括：第1层存储器阵列、第1层译码逻辑、公有冗余行、公有冗余列和第 1层存储器纠错容错电路，所述第1层存储器阵列由若干个第0层存储器 组成；所述第0层存储器包括第0层存储器阵列、第0层译码逻辑、私有 冗余行、私有冗余列和第0层存储器纠错容错电路；所述第0层存储器阵 列由若干个存储器字组成。其纠错容错方法是首先利用第0层的私有冗余 行和冗余列对故障进行替换，如无法替换，则利用第1层的公有冗余行和 冗余列对故障进行替换。本发明的优点包括：降低了存储器对测试和修复 仪器的依赖，降低了存储器的成本；本发明具有良好的修复效率，提高了 存储器的成品率。 |
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