| 专利名称 | 基于锗基底的可见/红外宽光谱分色片 | 申请号 | CN200810202261.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101403806 | 公开（授权）日 | 2009.04.08 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 于天燕;成效春;秦杨;刘定权;张凤山 | 主分类号 | G02B5/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B5/20(2006.01)I;G02B1/10(2006.01)I;B32B7/02(2006.01)I;C23C14/48(2006.01)I | 专利有效期 | 基于锗基底的可见/红外宽光谱分色片 至基于锗基底的可见/红外宽光谱分色片 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种可见/短、中波红外宽光谱分色片，该分色片以锗为基底， 反射堆以ZnS和YF3为高低折射率材料，等效层采用SiO和Ge，采用离子源 辅助、合适基底温度等特定工艺镀制而成。该分色片在入射角为45°下测得： 透射区波段2.5～2.95μm，4.2～4.8μm，T＞90％； 反射区波段0.55～0.75μm， R＞70％。本发明分色片产品性能稳定，适合于现代多光谱空间遥感仪器的分 色使用。 |
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