| 专利名称 | 阻变存储器的检测电路及检测设备 | 申请号 | CN200910077521.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101783182A | 公开（授权）日 | 2010.07.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 柳江;刘明;姬濯宇;涂德钰;刘兴华;商立伟;刘舸;王宏 | 主分类号 | G11C29/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G11C29/00(2006.01)I;G11C7/06(2006.01)I | 专利有效期 | 阻变存储器的检测电路及检测设备 至阻变存储器的检测电路及检测设备 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种阻变存储器的检测电路及检测设备。检测电路为：设置字线的电压为预定的读取电压并检测阻变存储器中流动的电流值，在合理的选择取样电阻后，通过比较读取电压和取样电阻上的电压，从而读出存储器中的数据。检测设备包括：显示器(1)和控制器(2)；用于产生编程电压、读取电压以及保护电压的电压产生电路(4)；用于配置字线电压(7)和电压比较器参考电压(19)的字线选择开关阵列(6)；用于配置位线电压(9)和电流检测端口(11)的位线选择开关阵列(10)；自适应AD采样电路(13)；以及用于读出阻变存储器数据的检测电路(20)。通过自适应AD采样电路(13)，得到合适的采样电阻，从而高效的读出阻变存储器数据。 |
1、源头对接，价格透明
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