一种对平面超导微带谐振器进行检测与优化的方法

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专利名称 一种对平面超导微带谐振器进行检测与优化的方法 申请号 CN200810149558.0 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN101369680 公开(授权)日 2009.02.18 申请(专利权)人 中国科学院物理研究所 发明(设计)人 李顺洲;何豫生;黄建冬;张雪强;李春光;何艾生;黎红 主分类号 H01P7/08(2006.01)I IPC主分类号 H01P7/08(2006.01)I;G06F17/50(2006.01)I 专利有效期 一种对平面超导微带谐振器进行检测与优化的方法 至一种对平面超导微带谐振器进行检测与优化的方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明涉及一种平面超导微带谐振器,包括一条由上、下两层超导薄膜和位 于两层超导薄膜间的人造单晶介质组成的微带线;其特征在于,所述微带线是一 条连续完整的带状体,形成一个具有内环和外环的几何图形,其内、外环均不封 闭。本发明的优点是寄生耦合大大减弱,结构更加紧凑。由于采用内、外环的结 构,且内环、外环的电流方向相反,当本发明提供的这种谐振器组合在一起时它 们的之间的耦合相对较弱,为了满足一定的耦合关系,它们必须靠得更近,这样 就使整体结构更紧密;更重要的是对于三个或三个以上的谐振器组合,远场更弱 的耦合就意味着寄生耦合的影响大大减小,基于这一点利用本发明提供的谐振器 设计并制做出高性能的窄带超导带通滤波器。

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