| 专利名称 | 使用锁相放大技术的自动化磁输运测量系统 | 申请号 | CN200810200212.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101369010 | 公开（授权）日 | 2009.02.18 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 褚君浩;孙雷;俞国林;周远明;高矿红;林铁;周文政;商丽燕 | 主分类号 | G01R33/12(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R33/12(2006.01)I | 专利有效期 | 使用锁相放大技术的自动化磁输运测量系统 至使用锁相放大技术的自动化磁输运测量系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明设计了一种使用锁相放大技术的自动化磁输运测量系统，可用于精 确测量低温强磁场下材料的电学输运相关的性质，如测量磁阻震荡、霍尔效应 等。系统主要包括：标准霍尔板样品、低温杜瓦及温控装置、磁体及磁控装置、 两台锁相放大器、电流源、反向截止电路、电压源、GPIB控制卡、计算机。 测量材料制备成标准霍尔板样品，计算机通过GPIB总线与各个仪器相连，使 用程序控制各个仪器进行自动测量，实时显示测量结果，并保存测量结果为数 据文件。本系统的主要优点有：1.相对与直流磁输运测量，能够用微小测量 电流进行的磁输运测量，减小大电流带来的不利影响，提高了测量精度；2. 能够自动改变栅压和磁场，一次测量就给出栅压-磁场相图。 |
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