| 专利名称 | 一种稀疏光学合成孔径成像系统的相位平移误差校正装置 | 申请号 | CN201110070546.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102122082A | 公开（授权）日 | 2011.07.13 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 刘政;王胜千;饶长辉 | 主分类号 | G02B27/58(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B27/58(2006.01)I;G02B27/09(2006.01)I;G02B17/08(2006.01)I;G01S7/497(2006.01)I | 专利有效期 | 一种稀疏光学合成孔径成像系统的相位平移误差校正装置 至一种稀疏光学合成孔径成像系统的相位平移误差校正装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种稀疏光学合成孔径成像系统的相位平移误差校正装置，由稀疏光学合成孔径望远镜、自适应光学系统、误差补偿器、误差补偿控制器、分束器、光束开关、消色差成像元件、科学级相机、误差计算单元组成。其中光束开关、消色差成像元件、科学级相机和误差计算单元构成误差探测模块；误差补偿器和误差补偿控制器构成误差补偿模块；另一套消色差成像元件和科学级相机构成成像模块。误差探测模块完成对相位平移误差的求解。误差补偿模块对相位平移误差进行补偿。针对不同子孔径对进行上述探测、补偿过程可实现系统内相位平移误差的完整校正。该装置可有效实现相位平移误差的探测和补偿功能，在准确性、实时性等方面较目前同类系统中的探测技术有所改善。 |
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