| 专利名称 | 磁共振温度成像中温度测量的矫正方法和系统 | 申请号 | CN201210341758.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102866373A | 公开（授权）日 | 2013.01.09 | 申请（专利权）人 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 发明（设计）人 | 刘新;郑海荣;潘艳丽;沈欢;蔡葳蕤 | 主分类号 | G01R33/58(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R33/58(2006.01)I | 专利有效期 | 磁共振温度成像中温度测量的矫正方法和系统 至磁共振温度成像中温度测量的矫正方法和系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 磁共振温度成像中温度测量的矫正方法和系统，包括以下步骤：测量温升；判断所述测量温升是否结束，否，则获取主磁场漂移信号值，并根据所述主磁场漂移信号值计算得到补偿电流值；根据所述补偿电流值对主磁场进行补偿。磁共振温度成像中温度测量的矫正方法和系统，在测量温升的过程，判断测量是否结束，若没有结束，则通过所获取的主磁场漂移信号值进行计算获得补偿电流值，最后根据补偿电流值对主磁场进行补偿，克服了主磁场漂移的缺陷。因为主磁场漂移量较低或趋于零，则磁共振温度成像中的温度测量的准确性就较高，达到了温度测量过程中矫正的目的。 |
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