| 专利名称 | I-V二阶微分测量方法及装置 | 申请号 | CN201110232212.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102323486A | 公开（授权）日 | 2012.01.18 | 申请（专利权）人 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 发明（设计）人 | 马仙梅;蒋春萍 | 主分类号 | G01R27/14(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R27/14(2006.01)I | 专利有效期 | I-V二阶微分测量方法及装置 至I-V二阶微分测量方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种I-V二阶微分测量方法及装置。该装置包括直流信号源、函数发生器、具有分压作用的交直流加法器、前置放大器，锁相放大器及环境条件控制系统；该方法是：将选定频率的交流小信号通过交直流加法器与直流偏压叠加，共同作用于测试样品，含有测试样品信息的信号经前置放大器放大转换成电压信号，由锁相测量倍频信号电压。本发明的优点至少在于：（1）交直流加法器交流通路里含有分压器；（2）交流信号由函数发生器提供，精度较高，并经过分压后幅度很小，降低了其对直流偏置信号的影响，提高了信噪比；（3）直接测量I-V二阶微分随外界条件的变化曲线，方法简单，结果精确直观，并且对测试者电路设计水平要求不高。 |
1、源头对接，价格透明
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