| 专利名称 | 全极化综合孔径微波辐射计 | 申请号 | CN200710119342.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101349719 | 公开（授权）日 | 2009.01.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明（设计）人 | 吴季;阎敬业;马纽埃尔·马丁·尼拉 | 主分类号 | G01R29/08(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R29/08(2006.01)I;G01R29/10(2006.01)I;G01S13/90(2006.01)I | 专利有效期 | 全极化综合孔径微波辐射计 至全极化综合孔径微波辐射计 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种全极化综合孔径微波辐射计，包括依次连接的天线阵列、 接收机阵列、相关器单元、控制和数据处理单元，所述控制和数据处理单元 与计算机或数据接口连接；其特征在于，所述天线阵列是一维天线阵列，该 天线阵列由平行排列的双极化天线单元组成。本发明具有如下技术效果：实 现了一维综合孔径的全极化测量；实现了综合孔径辐射计等入射角测量；实 现了综合孔径微波辐射计的两点定标；本发明的一维孔径综合的技术复杂度 低于二维孔径综合；本发明的单通道接收机极化切换模式满足了轻量化和低 功耗的要求；本发明的双通道接收机模式实现了高灵敏度辐射测量。 |
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