| 专利名称 | 精密测角方法及其装置 | 申请号 | CN201210363765.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102878953A | 公开（授权）日 | 2013.01.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 吴易明;陆卫国;李春艳;肖茂森;王海霞 | 主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | 专利有效期 | 精密测角方法及其装置 至精密测角方法及其装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及精密测角的方法及其装置，包括：1）由光源发射出光强为I0的光束；2）对光束进行准直扩束，得到准直光；3）将准直光束进行起偏并得到线偏振光；4）对线偏振光进行磁光调制，得到磁光调制信号光；5）将磁光调制信号光进行偏振分束，得到分束后的光强为I1的第一分束光以及光强为I2的第二分束光；6）通过光电转换器探测第一分束光的光强度信号经过光电转换器转换成的模拟电信号以及第二分束光的光强度信号经过光电转换器转换成的模拟电信号；所述模拟电信号包括交流分量以及直流分量；8）解算检偏器与x轴之间的方位角。本发明提供了一种可提高系统测角精度、测角速度快、灵敏度高以及作用距离远的精密测角方法及其装置。 |
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