| 专利名称 | 立式大量程高精度光学平面测试装置 | 申请号 | CN201210363897.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102878949A | 公开（授权）日 | 2013.01.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 马冬梅;宋立维;王涛 | 主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | 专利有效期 | 立式大量程高精度光学平面测试装置 至立式大量程高精度光学平面测试装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 立式大量程高精度光学平面测试装置属于光学测试仪器领域，该装置包括：支撑底台、水平转台、精密转台、长导轨、第一反射镜、第二反射镜、第一测角装置、第二测角装置、滑板、数据采集分析系统和电控系统；支撑底台上依次放置水平转台和精密转台，精密转台的一侧与长导轨连接，长导轨上安装滑板、第一测角装置和第二测角装置；第一反射镜和第二反射镜固定在滑板上，滑板在长导轨上运动；数据采集分析系统控制第一测角装置和第二测角装置，电控系统控制精密转台和滑板运动。该装置其体积小、重量轻，可在不同姿态下使用，测试精度不受重力影响，结构简单，易于设计加工，可测试口径主要取决于长导轨的有效量程。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障